انت هنا الان : شبكة جامعة بابل > موقع الكلية > نظام التعليم الالكتروني > مشاهدة المحاضرة

مفهوم منسوب فيرمي

Share |
الكلية كلية العلوم     القسم قسم الفيزياء     المرحلة 4
أستاذ المادة رحيم كعيد كاظم المرشدي       6/9/2011 5:46:36 AM

مفهوم مستوي فيرمي    The Concept of Fermi Level

 

 

مستوي فيرمي : هو مستوي طاقه تكون فيه احتمالية وجود الالكترونات تساوي 50% .

 

 

 

في شبه الموصل النقي :

 

 

    يكون موضع مستوي فيرمي في شبه الموصل النقي متوسطا بين حزمة التكافؤ Ec وبين حزمة التكافؤ Ev .

 

 

  في شبه الموصل المشوب :

 

 

     باستمرار إضافة الشوائب إلى شبه الموصل النقي ، يزحف منسوب فيرمي نحو حزمة التوصيل أو حزمة التكافؤ .ففي شبه الموصل المشوب نوع سالب  n-type يكون موضع مستوي فيرمي قريبا من حزمة التوصيل وكلما تزداد الذرات الشائبة ألمانحه يزحف مستوي فيرمي أكثر مقتربا  من حزمة التوصيل (Ec) .

 

     أما في شبه الموصل الشائب نوع موجب p-type فيكون موضع مستوي فيرمي قريبا من حزمة التكافؤ. وكلما تزداد نسبة الذرات ألقابله في شبه الموصل كلما يزحف مستوي فيرمي أكثر

 

مقتربا من حزمة التكافؤ (Ev) .

 

 

دالة التوزيع F(E) وطاقة مستوي فيرمي  EF

 

 

    تتوزع الالكترونات بشكل غير متساوي في شبه الموصل . فمنها ما يشغل حزمة التوصيل ومنها ما يشغل حزمة التكافؤ ومنها مايشغل مايسمى بمستوي فيرمي ، وان احتمالية توزيع أو إشغال مستوي معين يعطى باستخدام إحصائيات فيرمي-ديراك( (Fermi-Dirac Statistics،

 

إذ استخدم العالمان فيرمي وديراك إحصائيات ماكسويل بولتزمان وطوروها بإضافة مبدأ الاستثناء لبا ولي وتمكنا من أعطاء صيغه رياضيه للتوزيع الأكثر احتمالا للالكترونات المسمى بدالة ألاحتماليهE) )F حيث إن :

 

 

F(E)= 1/ 1+exp (E-EF)/kT                                                      

 

 

حيث إن :      E  : مستوي الطاقة المراد إيجاد احتمالية توزيع الالكترونات فيه .

 

                EF : طاقة مستوي فيرمي .

 

                 k : ثابت بولتزمان ويساوي 1.38x10-23  J/K

 

 

مثال : شريحة سليكونيه ذات فجوة طاقه 1.12 Ev ، بافتراض إن الشريحة نقيه ، احسب احتمالية وجود الالكترونات في قعر حزمة التوصيل عند درجة حرارة ألغرفه 27°c  .

 

 

الحل : بما أن فجوة الطاقة معطاة بوحدة الإلكترون- فولت ، لذا نحول KT وهي طاقة درجة حرارة ألغرفه إلى وحدة (الإلكترون- فولت) بقسمتها على شحنة الإلكترون .

 

 

Kt(Joule) ?  kT/q = 1.38x10-23 x300/1.6x10-19 = 0.0259 Ev

 

بما إن شبه الموصل نقي لذا فان مستوي فيرمي واقع في منتصف فجوة الطاقة وبتطبيق ألمعادله أعلاه على قعر حزمة التوصيل يكون :

 

 

    F(Ec)= 1/ 1+exp (Ec-EF)/kT = 1/1+exp(Eg/2kT) = 4.07X10-10                                                        

 

وهي احتمالية ضعيفة .

 

 

The Drift Current    تيار الانسياق

 

      The transport of carriers under the influence of an applied electric field produce a current called the drift current.

 

 

       For n-type Semiconductor :

 

 

In = Total charge / time = -qN/t = -q (N/V0).V0 /t

 

Where :

 

N : number of electrons , q = 1.6x10-19 c , V0 = volume of Sc.

 

In = -q nAL / t    Where V0 = AL , N/V0 = n

 

 

               = -qnAL/ (L/vd)   , where vd = drift velocity

 

In = -qnAvd  ………………………………… (1)      تيار الالكترونات

 

 

 

?n = -vd /E     ,   vd = - ?n E …………………..(2)

 

 

Where  ?n = Electron mobility, E = Electric field.

 

 

Substituting equ.2 in equ.1 ,we get :

 

 

In = -q n A (-?E) = qn A?nE …………………(3)

 

 

Jn = In / A = +q nA?E /A = qn?nE = ?E ……..(4)

 

 

E = V/L       …………………………………..(5)

 

 

Substituting equ.5 in equ.3 ,we get :

 

 

In= qnA?n V/L   ,  V/In = L / qnA?n  …………(6)

 

 

R = ?L/ A = V / In = L / qnA?n  ,  ? = 1/ nq ?n

 

 

?n = 1/ ? = nq ?n   ,             ?p = pq ?p

 

 

? =  ?n +  ?p = nq ?n +  pq ?p 

 

The Diffusion Current     تيار الانتشار

 

 

Let us consider the effect of droping (ting amount) of highly concentrated red ink in a glass of water , we notice that the movement of color pigments is related to concentration gradient , so that the molecules have a net tendency to move from high concentration to low concentration , similarly , the diffusion of electrons and holes results , their movement from high concentration to low concentration . The diffusion Flux obey Flick ,s first law :

 

 

        F =-D (dn / dx )            Flick ,s first law    

 

 

     Where   F = flux of carriers or no. of carriers passing through 1cm3/s.

 

                 D = diffusion constant .

 

                 n =  carrier density .

 

 

               I =  qAF              ,  A = cross-section area

 

               In = qADn( dn/dx)  ,   n= no. of electrons in 1 cm3.

 

              Ip =- qADp( dp/dx)  ,    p= no. of holes in 1 cm3.

 

 

It can be shown that :

 

 

           Dn / ?n = Dp / ?p = kT / q         Einstain relation

 

 

      Charge carriers will difuse to a certain distance called diffusion length Ln and  LP , where :

 

      Ln = (Dn?n )1/2    ,  Lp = ( Dp?p)1/2   

 

         Where : ?  = carrier lifetime

 

                       ?n = electrons  lifetime .

 

                      ?p =     holes  lifetime .

 

 

      For lightly doped silicon , Dn = 38 cm2 / s and DP = 13 cm2/ s .

 

   I  =  Idrift + Idiffusion

 

 

            In = qA (?n n ? +Dn (dn/dx)

 

 

  Ip = qA (?p p ? + Dp ( dp/dx) 


المادة المعروضة اعلاه هي مدخل الى المحاضرة المرفوعة بواسطة استاذ(ة) المادة . وقد تبدو لك غير متكاملة . حيث يضع استاذ المادة في بعض الاحيان فقط الجزء الاول من المحاضرة من اجل الاطلاع على ما ستقوم بتحميله لاحقا . في نظام التعليم الالكتروني نوفر هذه الخدمة لكي نبقيك على اطلاع حول محتوى الملف الذي ستقوم بتحميله .
الرجوع الىلوحة التحكم