n نظراً لما يحتلهُ السليكون من أهمية في المجالات الصناعية والتقنية، فقد قام العديد من الباحثين بدراسة خواصهِ الألكترونية والتركيبية في الحالة الاعتيادية وفي حالة تعرضه للاجهادات وذلك لأمكان تعرض السليكون المستعمل في الأجهزة الالكترونية الحساسة الى اجهادات عالية في تطبيقات دراسة أعماق البحار أو عند التعرض إلى موجات الصدمة أو في اختبارات تحمل الطائرات والسفن للصدمات. ولازال هذا الموضوع هدفا لأبحاث حديثة:
n [ Durandurdu and Drabold (2003), Raffy et al. (2002), Centoni et al. (2005), Morishita (2004), Daisenberger et al. (2007)].
ونظراً لصعوبة دراسة خواص البلورة عند تسليط ضغوط عالية عليها إما من الناحية العملية أو من الناحية الاقتصادية، فقد أجريت العديد من الدراسات النظرية وباستعمال طرائق مختلفة منها ( الطريقة العنقودية وطريقة دالة الكثافة الإلكترونية ) وحققت الطريقة الاخيرة نتائج جيدة جداً لحساب الخواص الفيزيائية نظرياً. غير أن هذه الطريقة تحتاج إلى برامج متطورة نوعاً ما والى وقت طويل لإجراء الحسابات، لذا لجأنا الى طريقة أخرى وهي طريقة وحدة الخلية الكبيرة لنرى مدى امكانية تطبيقها ودقتها في حساب الخواص الألكترونية، وذلك بعد ادخال التقريب ( متوسط الأهمال الجزئي لتداخل المدارات الذرية (INDO ) ) بدلاً من التقريب ( الاهمال الكلي لتداخل المدارات الذرية ( CNDO ) ) وذلك لأنها اكثر دقة في الحسابات عند استعمالها في حساب خواص البلورات والجزيئات التي تكون قشرها الخارجية نصف ممتلئة.